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パワー・デバイス・テスト
MOSFETとIGBTなどのパワー半導体デバイスは電力変換や調整のコア・デバイスです。電源デバイス自体の損失は、電源の効率に影響を与える重要な要素であり、高い損失はデバイスを加熱し電源の寿命に影響を与える可能性があります。オシロスコープは通常、瞬間的な電力積分法を使用して、電源デバイスの損失波形を測定します。リゴルのオシロスコープは、さまざまなテスト要求を満たすために、高電圧差動プローブと電流プローブを備えた電源テストをサポートしています。ウルトラ・パワー・アナライザPCソフトウェアを使用すると、テスト・データをエクスポートし、複数のパラメータのオンラインおよびオフライン・テストを完了し、レポートを生成できます。
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リプル分析
リプルは、DC電源を評価するための重要なパラメータであり、リプルは電源周波数、スイッチング周波数、および高周波ノイズで構成されます。 リプルの正確なテストでは、テスト機器自体をできるだけ小さく、テスト結果への影響を最小限に抑える必要があります。 リゴルのオシロスコープの重要な機能は低ノイズであり、DS2000Aオシロスコープは業界をリードする500uV / divのレンジに対応しているため、リプルなどの小信号のテストに最適です。 PVP2150 / PVP2350プローブは1：1/10：1の減衰比を提供し、1Xでは直接リプルテスト用に最大35MHzの帯域幅を提供できます。 ウルトラ・パワー・アナライザPCソフトウェアは、リプル解析機能を提供します。
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変調解析
電源効率や力率を改善するためにスイッチング電源が使用され、パワー半導体デバイスのゲートを駆動するパルスはPWM変調されています。スイッチング電源の開発ではPWM駆動パルスもシミュレート、テスト、検証する必要があります。リゴルの任意波形発生器はさまざまなPWM変調信号を生成でき、独立した2チャンネル出力なので、さまざまなタイプの駆動信号の生成に適しています。オシロスコープは変調信号の変化を観測することができます。
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製造とエージング・テスト
電源製品には、多数の迅速なパラメータ・テストとエージング・テストが必要であり、複数のパラメータの測定と記録を同時にテストする必要があります。テスト結果が制限を超える場合、システムにアラームをあげる必要があります。これらすべての要件は、リゴルのM300データ・アクイジション・システムにとって簡単です。6桁半の精度、最大250CH /sのテスト速度、および最大320チャンネルのシステム構成機能により、M300は生産および温度、湿度、エージングのテストに最適なツールです。（M300は日本では販売しておりません）
